三箱式冷熱沖擊試驗箱封裝產(chǎn)品

電子電器零組件、金屬、化學材料、自動化零部、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板電子芯片ic、半導體陶瓷及高分子材料之物力性變化的理想測試工具。

 三箱式冷熱沖擊試驗箱封裝產(chǎn)品

參數(shù)：

一、高低溫區(qū)溫度范圍：高溫區(qū)部分：+80℃至+200℃。低溫區(qū)部分：-10℃至-55℃。

二、溫度測試范圍：高溫：+60℃至+150℃。低溫：0℃至-40℃。

三、控制精度：+(-)2℃。

四、解析精度：0.01℃。

五、高溫區(qū)升溫時間：自常溫至150℃，約60分鐘。

六、低溫區(qū)降溫時間：自常溫至-40℃，約80分鐘。

七、冷熱沖擊試驗箱測試區(qū)溫度恢復時間：3-5分鐘。

技術參數(shù)：

型號：TSB-80F-3P

標稱容積：80L

試驗方式：氣動風門切換3溫室方式

高溫室性能：預熱上限溫度（+200℃）

高溫室升溫速率：（+70℃→+200℃≤20min）

低溫室性能：預冷下限溫度（-75℃）

低溫室降溫速率：（+70℃→-150℃≤80min）

試驗室溫度偏差：±2.0℃

試驗室高溫沖擊范圍：(+70℃→+150℃)

試驗室低溫沖擊范圍：(-10℃→-55℃)

試驗室溫度恢復時間：≤5min

試樣籃高低溫室轉(zhuǎn)換時間：≤10s

試樣擱架承載能力：30kg

使用時注意事項

  1、冷熱沖擊試驗箱運行過程中，除非有需要，否則絕不要打開箱門，否則可能導致下列不良的后果，高溫氣流沖出箱外是非常危險的，高溫空氣可能觸發(fā)火災報警，產(chǎn)生錯誤操作。

  2、請確認冷熱沖擊試驗箱運行時箱門緊閉，開門前，注意箱體內(nèi)部溫度，以免燙傷或凍傷。

  3、避免于十五分鐘內(nèi)反復開啟/關閉冷凍機組。

  4、電路斷路器和超溫保護器是提供本機測試品以及操作者的安全保護，故請定期檢查。

  5、所有試樣均勻放置，試樣的放置應保證在工作室有效空間內(nèi)。

  6、在插、拔冷熱沖擊試驗箱與計算機的通訊接口連接線時，必須先關掉計算機電源，絕不允許帶電插拔，帶電插拔有可能損壞控制器或計算機的通訊模塊。

  7、請勿在設備高溫運行時切斷電源，尤其在設備內(nèi)部存在熱負載的情況下，這容易引起局部過熱，導致設備內(nèi)零部件燒毀。